XRD型偏光顯微熔點(diǎn)儀是專為材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子及納米材料科學(xué)而研制。與光學(xué)或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察記錄其融化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。并采用人性化“傻瓜”設(shè)計(jì)，自動(dòng)化程度高，操作簡單，技術(shù)先進(jìn)，性能優(yōu)秀，結(jié)構(gòu)新穎可靠。
技術(shù)參數(shù)：
輸入電源： 交流220V ±10﹪ 45-60HZ
熱臺(tái)加熱工作電源： 直流24V 1.5A
攻 耗： 75W
溫度范圍： 室溫—400℃
熱臺(tái)外體最高溫度： 當(dāng)熱體400℃；室溫25℃時(shí)≤70℃
熱體最大載物重量： 200克
工作方式： 連續(xù)
精 度：測量精度： 全范圍≤±0.3﹪
系統(tǒng)波動(dòng)度： ±1℃
最大升溫速度（MAX位）： 室溫—100℃≤40秒
可設(shè)置最慢升溫速度： 36秒/℃，達(dá)400℃時(shí)間：4小時(shí)
可設(shè)置升溫速度范圍： MAX—36秒/℃
即刻恒溫響應(yīng)時(shí)間： ≤0.01秒
工作臺(tái)外形尺寸： Φ110mm ，厚度：12mm
工作臺(tái)工作面尺寸： Φ30mm分別有透射光和反射光兩種
重 量： 7.6Kg
外包裝尺寸： 360×215×365mm